Impact of stress current on reverse-bias electroluminescence images of 850 nm oxide-confined VCSELs
| Author: | Arndt Jaeger, Nikolay Ledentsov, Jr., Sebastian Haberkern, Helmut Meinert, Alexander Moll, Ilya Titkov, Oleg Makarov, Nikolay Ledentsov |
|---|---|
| DOI: | https://doi.org/10.1117/12.3042245 |
| ISBN: | 0277-786X |
| Parent Title (English): | Choquette, K.D. ; Graham, L.A. (Hrsg.): Proceedings of SPIE Vol. 13384 |
| Publisher: | SPIE |
| Place of publication: | Bellingham, USA |
| Document Type: | Conference Proceeding |
| Language: | English |
| Year of Completion: | 2025 |
| Release Date: | 2025/04/10 |
| Page Number: | 10 |
| Open Access?: | nur im Hochschulnetz |
| Faculty: | Angewandte Naturwissenschaften, Energie- und Gebäudetechnik |
| Informatik und Informationstechnik | |
| I intend to…: | melden (für den Jahresbericht) / report (Annual Report of Research) |
| Relevance: | Konferenzbeitrag (1-fach gewertet) |