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Impact of stress current on reverse-bias electroluminescence images of 850 nm oxide-confined VCSELs

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Metadaten
Author:Arndt Jaeger, Nikolay Ledentsov, Jr., Sebastian Haberkern, Helmut Meinert, Alexander Moll, Ilya Titkov, Oleg Makarov, Nikolay Ledentsov
DOI:https://doi.org/10.1117/12.3042245
ISBN:0277-786X
Parent Title (English):Choquette, K.D. ; Graham, L.A. (Hrsg.): Proceedings of SPIE Vol. 13384
Publisher:SPIE
Place of publication:Bellingham, USA
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of Completion:2025
Release Date:2025/04/10
Page Number:10
Open Access?:nur im Hochschulnetz
Faculty:Angewandte Naturwissenschaften, Energie- und Gebäudetechnik
Informatik und Informationstechnik
I intend to…:melden (für den Jahresbericht) / report (Annual Report of Research)
Relevance:Konferenzbeitrag (1-fach gewertet)