Impact of stress current on reverse-bias electroluminescence images of 850 nm oxide-confined VCSELs
Author: | Arndt Jaeger, Nikolay Ledentsov, Jr., Sebastian Haberkern, Helmut Meinert, Alexander Moll, Ilya Titkov, Oleg Makarov, Nikolay Ledentsov |
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DOI: | https://doi.org/10.1117/12.3042245 |
ISBN: | 0277-786X |
Parent Title (English): | Choquette, K.D. ; Graham, L.A. (Hrsg.): Proceedings of SPIE Vol. 13384 |
Publisher: | SPIE |
Place of publication: | Bellingham, USA |
Document Type: | Conference Proceeding |
Language: | English |
Year of Completion: | 2025 |
Release Date: | 2025/04/10 |
Page Number: | 10 |
Open Access?: | nur im Hochschulnetz |
Faculty: | Angewandte Naturwissenschaften, Energie- und Gebäudetechnik |
Informatik und Informationstechnik | |
I intend to…: | melden (für den Jahresbericht) / report (Annual Report of Research) |
Relevance: | Konferenzbeitrag (1-fach gewertet) |