TY  - CHAP
U1  - Konferenzveröffentlichung
A1  - Leopold, T.
T1  - Zuverlässigkeitsnachweis entlang des Produktentwicklungsprozesses
BT  - Herausforderungen in der praktischen Umsetzung
T2  - 30. VDI-Tagung Technische Zuverlässigkeit, 27.-28.04.21
Y1  - 2021
SN  - 978-3-18-092377-2
SB  - 978-3-18-092377-2
U6  - https://doi.org/10.51202/9783181023778-121
DO  - https://doi.org/10.51202/9783181023778-121
VL  - VDI-Berichte. Bd. 2377
SP  - 121
EP  - 132
PB  - VDI-Verlag
CY  - Düsseldorf
ER  -